







SDL470 EXTEC/美国 紫外线辐照度计是一款 UVA/UVC 光度计和数据记录仪。SDL470 可以分别测量 UVA 和 UVC 光源下的长波和短波紫外线辐照度。该仪表具备余弦修正滤波器、数据记录至Excel®格式、偏移调整以进行相对测量、Type-K/J热电偶输入用于温度测量(探头另售)、记录/回忆模式、最小和最大读数,以及数据保持和带禁用功能的自动关机功能。该产品内置倾斜支架、SD存储卡、带保护罩的UVA光传感器、UVC光传感器、硬壳盒、通用交流适配器和6节AA电池。具有日期/时间的数据记录功能,可将文件以Excel®格式保存在SD存储卡上。

SDL470 EXTEC/美国 紫外线辐照度计产品特点:
• UVA探针可捕捉UVA(黑光)光源下的365nm UV长波辐照度测量值
• UVC探针可捕捉UVC光源下的254nm UV短波辐照度测量值
• 配有余弦校正滤光片和金属外壳
• 具有数据记录仪日期/时间戳,能够以MS Excel®格式将读数保存在SD卡上,方便对数据进行离线分析
• 具有用于归零功能的偏移调节,可进行相对测量
• 可以调节数据采样速率:1至3600秒
• 具有K/J型热电偶输入,可用于温度测量(探针单独出售)
• 大型背光式LCD显示屏
• 手动存储99个读数
• 可记录/调用大小值读数,具有数据保持和自动关机功能
SDL470 EXTEC/美国 紫外线辐照度计技术参数:
| 规格 | 量程 | 高分辨率 | 基本精度 |
| UVA长波 | 2mW/cm2,20mW/cm2 | 0.001mW/cm2 | ±4% FS |
| UVC短波 | 2mW/cm2,20mW/cm2 | 0.001mW/cm2 | ±4% FS |
| 频带宽度 | 365nm (UVA);254nm (UVC) | ||
| K型温度 | -148至2372°F(-100至1300°C) | 0.1°F/°C | ±(0.4%±1.8°F/1°C) |
| J型温度 | -148至2192°F(-100至1200°C) | 0.1°F/°C | ±(0.4%±1.8°F/1°C) |
| 存储 | 手动:99个数据读数;SD存储卡:用于数据记录的SD存储卡 | ||
| 尺寸/重量 | (182x73x47.5mm)/ (475g) | ||
SDL470 EXTEC/美国 紫外线辐照度计标准配置:
SDL470长波/短波紫外照度计主机,内置倾斜支架、SD存储卡、带保护盖的UVA长波传感器、UVC短波传感器、硬质便携箱、通用交流适配器和6节AA电池

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