PAL-Patissier爱拓糖度波美度计（双标度）折光仪（货号 4508）是日本 ATAGO 爱拓 烘焙甜品专属双标度数显折射仪，专为蛋糕店、烘焙工厂、甜品研发打造，一机同时显示糖度 Brix、糖波美度 Baume两大烘焙核心指标。

传统甜品制作依靠经验、目测判断糖浆、果酱熬煮终点，易出现甜度不均、成品软硬失衡、保质期不稳定、原料损耗大等问题；本仪器搭载 10~100℃宽幅自动温度补偿，刚熬煮完成的高温糖浆无需冷却直接检测，微量样品 3 秒快速读数，IP65 防水机身可清水冲洗糖渍、焦糖残留，是烘焙门店、中央工厂标准化管控糖浆、果馅、焦糖的便携质检设备。

PAL-Patissier爱拓糖度波美度计（双标度）折光仪产品优势

烘焙专属双标度，同步读取两组工艺数据

内置双专用标定曲线，屏幕同时显示糖度（Brix）与糖波美度，波美度是行业熬制糖浆、麦芽糖通用判定标准，糖度管控成品甜度；一锅样品一次检测获取两项关键数值，精准把控熬煮收锅节点，统一甜品口感、硬度与保存期限。

超宽量程覆盖全品类烘焙原料

糖度测量 0.0~85.0%、糖波美度 0~45°，从新鲜水果、淡糖水、果汁，到高浓度焦糖、麦芽糖、翻糖、果膏、果酱均可检测，一台仪器覆盖全品类甜品原料，减少多台设备采购成本。

10~100℃宽温 ATC 自动温度补偿

高温沸腾糖浆、热果酱无需静置降温，仪器自动抵消温度对读数的干扰，冷热样品测量数值稳定无偏差，大幅缩短熬煮抽检等待时间，提升后厨生产效率。

微量极速检测，背光 + E.L.I 抗强光读数清晰

仅需 2~3 滴糖浆 / 果馅铺满棱镜，按下 START 键 3 秒同步显示糖度、波美度、样品温度；液晶背光屏幕适配昏暗后厨，搭配 E.L.I 外部遮光技术，窗边、操作台强光环境测量无数值漂移。

IP65 防水防尘，糖渍焦糖易清洁

整机可耐受喷射水流，糖浆结晶、焦糖、果泥残留可直接清水冲洗棱镜，不易粘连腐蚀，清洁简单，符合食品烘焙卫生操作规范。

口袋便携长续航，支持 NFC 质检数据溯源

整机仅 100g，单手可握、随身口袋收纳；2 节 AAA 七号电池，单组电池可完成上万次测量；内置 NFC 无线数据传输，手机读取存储检测记录，连锁烘焙、食品工厂可统一生产台账存档追溯。

纯水一键归零，操作零门槛

仅使用纯净水按 ZERO 键完成零点校准，无需配套专用校准试剂，烘焙师傅简单培训即可独立操作。

PAL-Patissier爱拓糖度波美度计（双标度） 技术参数